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    • 专利摘要:
    Verfahren und Systeme zum Steuern von Gerättesten sind offenbart. Bei einem Ausführungsbeispiel umfasst das System eine lokale Steuerung mit einem Slavemodus und einem Steuermodus, wobei die lokale Steuerung, wenn dieselbe in dem Steuermodus ist, das Testen eines Geräts steuert und einen oder mehrere Testbefehle einleitet, die an das Gerät angelegt werden sollen, und, wenn dieselbe in dem Slavemodus ist, einen Ferntestbefehl durchleitet, der von einer entfernten Steuerung an einen Tester empfangen wurde. Das System umfasst ferner den Tester, der kommunikativ mit der lokalen Steuerung gekoppelt ist, um einen der einen oder mehreren Testbefehle und den Ferntestbefehl an das Gerät anzulegen.
    公开号:DE102004030542A1
    申请号:DE200410030542
    申请日:2004-06-24
    公开日:2005-05-25
    发明作者:Robert S. Longmont Kolman
    申请人:Agilent Technologies Inc；
    IPC主号:G01R31-28
    专利说明:
    [0001] Vordem Versenden eines Geräts,wie z. B. eines Systems-auf-Chip(SOC; SOC = system-on-a-chip), muss das Gerät getestet werden, um zu bestimmen,ob dasselbe fehlerfrei hergestellt wurde und vollständig betriebsfähig ist.Für solchesTesten sind eine Vielzahl von Testern verfügbar. Typischerweise ist einTester eine sehr großeund aufwendige Maschine, die entworfen ist, um die Plazierung vonLogiksignalübergängen beisehr hohen Geschwindigkeiten genau zu positionieren. Die meisten Testerzielen darauf ab, eine „Funktionsumgebung" für ein Gerät zu erzeugen,die die Umgebung imitiert, in der das Gerät schließlich verwendet wird, um dadurchzu demonstrieren, dass sich das Gerät in dieser Umgebung wie erwartetverhalten wird.
    [0002] Für Funktionstestslegt ein Tester eine Reihe von „Testvektoren" an die Eingänge desGerätsan. Ein Testvektor ist ein kritisch zeitlich abgestimmter Zyklusvon Ereignissen, die eine kurze Zeitperiode lang andauern, die alsein „Vektorzyklus" bezeichnet wird.Innerhalb eines Vektorzyklus und zu genau berechneten Zeiten legenLogiksignaltreiber in dem Tester Stimuli an die Geräteingänge an.Zur gleichen oder einer genau verzögerten Zeit überwachenLogiksignalkomparatoren in dem Tester Antworten an den Gerätausgängen. Wennviele Testvektoren gleichzeitig ausgeführt werden, werden Unterschiede zwischen überwachtenund erwarteten Gerätausgängen, fallses welche gibt, als Gerätausfälle bemerkt.
    [0003] EineAlternative oder Ergänzungzum Funktionstesten ist „Struktur-" Testen (z. B. „Abtast"-Testen). Strukturtestenermöglichtdas Testen von Strukturen, die tief in ein Gerät eingebettet sind. Anstattdie interne Struktur des Gerätsdurch Anlegen eines Stimulus an die Eingänge des Geräts zu testen, umfasst das Strukturtestendas Verschieben einer Reihe von Testvektoren in den Kern eines Geräts und,nachdem jeder Testvektor eingeschoben ist, das Einkoppeln des Testvektorsund Erfassen einer Antwort. Jede Antwort wird dann aus dem Gerät verschoben.Auf diese Weise kann ein Tester verifizieren, dass alle Elementeeines Gerätsvorliegen und betriebsfähig sind.Eine Annahme des Strukturtestens ist, dass, falls alle Elementevorliegen und betriebsfähigsind, die Elemente dazu beitragen, die größeren und beabsichtigten Funktionendes Geräts(z. B. Addieren, Verschieben usw.) durchzuführen und das Gerät wie entworfenfunktioniert.
    [0004] Während demTesten kann es sein, dass Hunderte von Geräten, die den gleichen Entwurfhaben, getestet werden müssen.Außerdemkann jedes zu testende Gerätmehreren Tests verschiedener Arten unterworfen werden. In einigenFällenkann die Auswahl von Tests, die ausgeführt werden müssen, abhängig vonden Ergebnissen vorhergehender Tests variieren.
    [0005] Esist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein System und ein Verfahrenzum Steuern von Gerättestenzu schaffen.
    [0006] DieseAufgabe wird durch ein System gemäß Anspruch 1 sowie ein Verfahrengemäß Anspruch10 gelöst.
    [0007] Verfahrenund Systeme zum Steuern von Gerättestensind offenbart. Bei einem Ausführungsbeispielumfasst das System eine lokale Steuerung mit einem Slavemodus undeinem Steuermodus. In dem Steuermodus muss die lokale Steuerungdas Testen eines Gerätssteuern und einen oder mehrere Testbefehle, die an das Gerät angelegtwerden sollen, auslösen.In dem Slavemodus läuftdie lokale Steuerung durch einen Ferntestbefehl, der von einer entferntangeordneten bzw. entfernten Steuerung an einen Tester empfangenwurde. Das System umfasst ferner den Tester, der kommunikativ mitder lokalen Steuerung gekoppelt ist, um einen der einen oder mehrerenTestbefehle und den Ferntestbefehl an das Gerät anzulegen.
    [0008] BevorzugteAusführungsbeispieleder vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend aufdie beiliegenden Zeichnungen nähererläutert.Es zeigen:
    [0009] 1 eineerste beispielhafte Konfiguration eines Systems, das verwendet werdenkann, um ein oder mehrere Gerätezu testen;
    [0010] 2 einezweite beispielhafte Konfiguration eines Systems, das verwendetwerden kann, um ein oder mehrere Geräte zu testen;
    [0011] 3 einbeispielhaftes Verfahren, das durch die lokale Steuerung von 1 oder 2 verwendetwerden kann, um zwischen Teststeuermodi zu schalten;
    [0012] 4 einbeispielhaftes Verfahren, das durch die Konfiguration von 2 während demGerättestenverwendet werden kann; und
    [0013] 5 einbeispielhaftes Verfahren, das durch die Konfiguration von 1 während demGerättestenverwendet werden kann.
    [0014] Einbeispielhaftes Ausführungsbeispieleines Systems, das verwendet werden kann, um ein oder mehrere Geräte zu testen,ist in 1 dargestellt. Das System umfasst eine lokaleSteuerung 160 mit zumindest zwei Funktionsweisen: einemSteuermodus und einem Slavemodus. In dem Steuermodus steuert dielokale Steuerung 160 das Testen des Geräts 150. Die Steuerungdes Testens kann das Auslösenvon einem oder mehreren Testbefehlen umfassen, die an das Gerät 150 angelegtwerden sollen. Beispielsweise könnendie Testbefehle, die durch die lokale Steuerung 160 ausgelöst werden,von Tests in einer Testdatei oder einer anderen Stelle ausge wählt werden.Abhängigvon Faktoren, wie z. B. den Ergebnissen von einer oder mehrerenvorhergehenden Ausführungenvon Testbefehlen und Befehlen, die sich in einer Testdatei befinden,kann die lokale Steuerung 160 die Verzweigung, Iterationund Schleifenbildung der Tests in der Testdatei steuern und Testbefehlean den Tester 100 entsprechend auslösen bzw. starten.
    [0015] Dielokale Steuerung 160 kann auch das Anlegen von Testbefehlenan mehrere Gerätesteuern, wenn dieselbe in dem Steuermodus ist. Beispielsweise kanndie lokale Steuerung 160 mit einer Sondenvorrichtung/Handhabungsvorrichtung(nicht gezeigt) kommunizieren, um die Entfernung des Geräts 150, nachdemdas Testen abgeschlossen ist, und die Einfügung eines anderen Geräts, dasgetestet werden soll, anzuweisen. Das zweite Gerät kann die gleiche Konfigurationhaben wie das Gerät 150.Somit kann die lokale Steuerung 160 das Testen von mehreren Losen,Kassetten oder anderen Gruppierungen von Geräten verwalten. Alternativ kanndas zweite Gerät eineandere Konfiguration aufweisen, mit anderen Tests, die angelegtwerden müssen.
    [0016] Indem Steuermodus kann die lokale Steuerung 160 auch Testergebnisseverwalten, die von dem Tester 100 empfangen werden, alsFolge des Anlegens des einen oder der mehreren Testbefehle an dasGerät 150.Wie es vorher beschrieben wurde, können Testergebnisse durch dielokale Steuerung 160 verwendet werden, um zu bestimmen,welcher Testbefehl an den Tester 100 gesendet werden sollte. Außerdem kanndie Verwaltung der Testergebnisse bei einigen Ausführungsbeispielendas Zusammenstellen einer Mehrzahl von Testergebnissen von mehrerenTestbefehlen umfassen, die an das Gerät 150 angelegt werden.Falls mehrere Gerätemit der gleichen Konfiguration getestet wurden, kann die lokaleSteuerung auch die Ergebnisse fürdie Serien, Kassetten oder anderen Gruppierungen von Geräten zusammenstellen.Bei einigen Ausführungsbeispielenkönnendie einzelnen oder zusammengestellten Ergebnisse durch die lokaleSteuerung oder andere Komponente verwendet werden, um zu bestimmen, obein Gerät,eine Serie, Kassette oder andere Gruppierung das Gerättestenbestanden hat.
    [0017] Wiees in 2 gezeigt ist, kann die lokale Steuerung 160 beieiner zweiten beispielhaften Konfiguration kommunikativ mit einerentfernten Steuerung 200 gekoppelt sein. Beispielsweisekann die entfernte Steuerung 200 eine Stationssteuerung sein,wie es durch die SEMI-Stationssteuerungsarchitektur(SEMI = Semiconductor Equipment and Materials International) definiertist. In dieser Konfiguration steuert die entfernte Steuerung 200 dasTesten des Geräts 150 unddie lokale Steuerung arbeitet in dem Slavemodus. In dem Slavemoduskann die lokale Steuerung 160 durch Testbefehle verlaufen,die von der entfernten Steuerung 200 an den Tester 100 empfangenwurden. Die lokale Steuerung kann in dem Slavemodus auch durch Ergebnissevon Testbefehlen an die entfernte Steuerung 200 laufen.Die Ergebnisse, die zu der entfernten Steuerung 200 weitergeleitetwerden, könnenfür einelokale Bezugnahme auch durch die lokale Steuerung 160 zusammengestelltwerden.
    [0018] Beieinigen Ausführungsbeispielenkann die lokale Steuerung 160 kommunikativ mit dem Speicher(nicht gezeigt) gekoppelt sein, um Testbefehle von der entferntenSteuerung 200 zu empfangen. Die lokale Steuerung 160 kannden Speicher abfragen, um das Vorliegen eines Testbefehls zu erfassen,der durch die entfernte Steuerung 200 ausgelöst wurde. Fallsdie lokale Steuerung 160 in dem Steuermodus ist und einBefehl von der entfernten Steuerung 200 erfasst wird, kanndie lokale Steuerung 160 von dem Steuermodus zu dem Slavemodusschalten. Bei alternativen Ausführungsbeispielenkann ein Flag oder Semaphor verwendet werden, um die lokale Steuerung 160 zwischenihren beiden Modi hin- und herzuschalten. Alternativ kann ein Parameterkonfiguriert sein, um die lokale Steuerung 160 anzuweisen,entweder in dem Slavemodus oder dem Steuermodus zu arbeiten. Essollte klar sein, dass auch alternative Verfahren verwendet werdenkönnen,um zwischen Modi hin- und her zu schalten. Es sollte auch klar sein,dass die lokale Steuerung 160 Software, Firmware, Hardwareoder eine Kombination derselben sein kann, und bei einigen Ausführungsbeispielen Teildes Testers 100 sein kann.
    [0019] Beiden Konfigurationen von sowohl 1 als auch 2 istdie lokale Steuerung 160 kommunikativ mit dem Tester 100 gekoppelt.Der Tester 100 kann beispielsweise ein System-auf-Chip-(SOC-) Tester sein. Der Tester 100 kann eine Mehrzahl von Platinen 102 – 106 umfassen.Jede Platine kann eine Mehrzahl von Stiften (nicht gezeigt) umfassen,um Logiksignale an ein Gerät 150,das getestet wird, gemäß Testbefehlenanzulegen, die von der lokalen Steuerung 160 empfangenwerden. Die Stifte können auchverwendet werden, um Ausgangssignale von dem Gerät 150 zu empfangen.Bei einem Ausführungsbeispielkann jeder Stift seinen eigenen Speicher für die Verwendung während demTesten des Gerätsumfassen. Der Speicher kann verwendet werden, um stiftspezifischeVektorinformationen zu speichern. Bei alternativen Ausführungsbeispielkann es sein, dass der Speicher nicht an jedem Stift enthalten ist,sondern statt dessen fürjede Platine oder andere Komponente des Testers 100 enthaltensein kann. Bei alternativen Ausführungsbeispielenkönnenauch andere Typen und Konfigurationen von Testern verwendet werden,um Testbefehle an das Gerät 150 anzulegen.
    [0020] Beieinem Ausführungsbeispielkann das zu testende Gerät 150 einSystem-auf-Chip (SOC) sein. Bei alternativen Ausführungsbeispielenkann das Gerät 150 einWafer sein, der mehrere zu testende Geräte aufweist, oder ein andererTyp von Schaltungsgerät.Außerdemist der Tester zu Zeiten zwischen dem Testen von Geräten nichtmit einem Gerät 150 gekoppelt.
    [0021] Essollte klar sein, dass der Tester 100 und die lokale Steuerung 160 inKonfigurationen verwendet werden können, bei denen die lokaleTeststeuerung benötigtwird, und Konfigurationen, bei denen eine entfernte Steuerung 200 verwendetwird, um das Testen zu steuern. Dies kann es einem Lieferanten ermöglichen,den gleichen Tester 100 und die lokale Steuerung 160 ineiner Vielzahl von Kundenkonfigurationen zu verkaufen. Außerdem können Kundenzwischen lokal und fern gesteuerten Konfigurationen wechseln, ohneden Tester 100 oder die lokale Steuerung 160 ändern zumüssen.
    [0022] 3 stelltein beispielhaftes Verfahren dar, das durch die lokale Steuerung 160 verwendetwerden kann, um zwischen Teststeuerungsmodi umzuschalten. Zunächst wirdein Testbefehl, der von einer entfernten Steuerung 200 empfangenwird, erfasst 300. Beispielsweise kann der Testbefehl erfasstwerden 300 durch Abfragen eines Speichers oder Prüfen einesSemaphors. Nachdem der Testbefehl erfasst ist 300, schaltet 305 dielokale Steuerung 160 von dem Steuermodus zu dem Slavemodus.
    [0023] Nachdemdie lokale Steuerung 160 zu dem Slavemodus schaltet 305,kann der Testbefehl zu dem Tester 100 durchgeleitet werdenund der Tester 100 kann dann den Testbefehl an ein Gerät 150 anlegen.Die lokale Steuerung 160 kann dann das Testergebnis zuder entfernten Steuerung 200 weiterleiten. Bei einigenAusführungsbeispielenkann die lokale Steuerung 160 das Ergebnis mit einem odermehreren zusätzlichenErgebnissen zusammenstellen, die vorher zu der entfernten Steuerung 200 durchgeleitet wurden,so dass diese Informationen lokal verfügbar sein können.
    [0024] Essollte klar sein, dass bei alternativen Ausführungsbeispielen andere Verfahrenverwendet werden können,um die lokale Steuerung zwischen Teststeuerungsmodi zu schalten.Beispielsweise kann ein konfigurierbarer Parameter vorgesehen sein,um die lokale Steuerung 160 anzuweisen, im Slavemodus oderSteuermodus zu arbeiten. Alternativ kann die lokale Steuerung 160 anfangsin dem Slavemodus arbeiten, bis ein Ereignis geschieht, um die lokaleSteuerung 160 auszulösen,um in den Steuermodus zu schalten.
    [0025] Einevereinfachte Erklärungder Unterschiede zwischen der Teststeuerung, wenn die lokale Steuerung 160 imSlavemodus ist und wenn die lokale Steuerung 160 im Steuermodusist, kann mit Bezugnahme auf 4 und 5 gegebenwerden. 4 stellt einen beispielhaftenTestfluss dar, der verwendet werden kann, während die lokale Steuerung 160 imSlavemodus ist. In dem Slavemodus wird ein Testbefehl von der entferntenSteuerung durch die lokale Steuerung 160 empfangen 400.Der Testbefehl wird dann zu dem Tester 100 durchgeleitet 405.
    [0026] Nachdemder Testbefehl durch den Tester 100 an das Gerät 150 angelegtwurde, wird ein Ergebnis des Testbefehls zu der entfernten Steuerung 200 durchgeleitet 410.Dieser Prozess kann fürzusätzlicheTestbefehle wiederholt werden. Somit wird in dem Slavemodus dasTesten des Geräts 150,einschließlichder Auswahl der Testbefehle, die angelegt werden sollen, durch dieentfernte Steuerung 200 durchgeführt.
    [0027] ImGegensatz dazu, wie es in 5 dargestelltist, steuert die lokale Steuerung 160 das Testen des Geräts 150,währenddieselbe in dem Steuermodus ist. Die lokale Steuerung 160 sendet 505 einen Testbefehlan den Tester 100. Wie es vorher beschrieben wurde, kanndie lokale Steuerung 160 die Testbefehle, die an den Tester 100 gesendetwerden sollen, von Tests in einer Testdatei oder einer anderen Stelleerhalten.
    [0028] Nachdemder Tester 100 den Testbefehl an das Gerät 150 angelegthat, empfängt 510 dielokale Steuerung 160 das Testergebnis. Die lokale Steuerung 160 bestimmt 515 dann,ob mehr Tests an das Gerät 150 angelegtwerden müssen,das derzeit getestet wird. Falls es mehr Tests gibt, sendet dielokale Steuerung 160 den nächsten Befehl an den Tester 100.
    [0029] Während demTesten kann die lokale Steuerung 160 durch Tests verzweigen,dieselben wiederholen und schleifenförmig durch dieselben verlaufen, diesich in einer Testdatei befinden, und kann Testergebnisse untersuchen,um zu bestimmen, welcher Testbefehl an den Tester 100 gesendetwerden sollte.
    [0030] Fallses keine weiteren Tests fürdas Gerät 150 gibt 515,kann die lokale Steuerung 160 bestimmen 520, obes mehr Gerätemit der gleichen Konfiguration wie das Gerät 150 gibt, die getestetwerden müssen.Falls nicht, endet das Testen 530. Falls es mehr Geräte gibt,kann die lokale Steuerung 160 eine Sondenvorrichtung/Handhabungsvorrichtung(oder einen anderen Mechanismus) anweisen, das Gerät 525 zudem nächstenGerät zu ändern, dasgetestet werden muss. Ein Testbefehl, der an das neue Gerät angelegtwerden soll, wird dann an den Tester 100 gesendet 505.Somit wird die Steuerung des Gerättestensdurch die lokale Steuerung 160 durchgeführt, wenn die lokale Steuerung 160 indem Steuermodus ist.
    权利要求:
    Claims (18)
    [1] System, das folgende Merkmale umfasst: einelokale Steuerung (160) mit einem Slavemodus und einem Steuermodus,wobei, wenn dieselbe in dem Steuermodus ist, die lokale Steuerung(160) vorgesehen ist, um das Testen eines Geräts (150)zu steuern und einen oder mehrere Testbefehle zu initiieren, diean das Gerät(150) angelegt werden sollen, und um, wenn dieselbe indem Slavemodus ist, einen Ferntestbefehl, der von einer entferntenSteuerung (200) empfangen wird, an einen Tester (100)weiterzuleiten; und einen Tester (100), der kommunikativmit der lokalen Steuerung (160) gekoppelt ist, um einender einen oder mehreren Testbefehle und des Ferntestbefehls an dasGerät (150)anzulegen.
    [2] System gemäß Anspruch1, das ferner die entfernte Steuerung (200) umfasst, diekommunikativ mit der lokalen Steuerung (160) gekoppeltist, um das Testen der Mehrzahl von Geräten (150) zu steuern, wenndie lokale Steuerung (160) in dem Slavemodus ist.
    [3] System gemäß Anspruch1 oder 2, bei dem die lokale Steuerung (160), wenn dieselbein dem Slavemodus ist, ferner vorgesehen ist, um ein Ergebnis desFerntestbefehls an die entfernte Steuerung (200) weiterzuleiten.
    [4] System gemäß Anspruch1 oder 2, bei dem die lokale Steuerung (160), wenn dieselbein dem Steuermodus ist, ferner vorgesehen ist, um zumindest ein Testergebniszu verwalten, das von dem Tester (100) empfangen wurde,als Folge des Anlegens des einen oder der mehreren Testbefehle.
    [5] System gemäß einemder Ansprüche1 bis 4, das ferner folgende Merkmale umfasst: einen Speicher,der kommunikativ mit der lokalen Steuerung (160) gekoppeltist, um den Ferntestbefehl von der entfernten Steuerung (200)zu empfangen; wobei die lokale Steuerung (160) fernervorgesehen ist, um den Ferntestbefehl von dem Speicher zu erhalten.
    [6] System gemäß Anspruch5, bei dem die lokale Steuerung (160) ferner vorgesehenist, um den Speicher abzufragen, um das Vorliegen des Ferntestbefehlszu erfassen.
    [7] System gemäß einemder Ansprüche1 bis 6, bei dem die lokale Steuerung (160) auf das Erfassen desFerntestbefehls hin von dem Steuermodus zu dem Slavemodus schaltet.
    [8] System gemäß einemder Ansprüche1 bis 7, bei dem die lokale Steuerung (160) ferner vorgesehenist, um das Testen eines zweiten Geräts zu steuern und einen odermehrere Testbefehle fürdas zweite Gerätauszulösen,wenn dieselbe in dem Steuermodus ist, und wobei der Tester (100)ferner vorgesehen ist, um den einen oder die mehreren Testbefehlefür daszweite Gerätan das zweite Gerätanzulegen.
    [9] System gemäß einemder Ansprüche1 bis 8, bei dem der Tester (100) einen Tester für ein System-aufChip (SOC) umfasst.
    [10] Verfahren, das folgende Schritte umfasst: Erfassen(300) eines Ferntestbefehls, der von einer entfernten Steuerung(200) empfangen wird; auf das Erfassen des Ferntestbefehlshin, Schalten (305) von einem Steuermodus zum Steuern desTestens eines Geräts(150) und zum Auslösenvon einem oder mehreren Testbefehlen, die an das Gerät angelegtwerden sollen, in einen Slavemodus, um den Ferntestbefehl an einenTester (100) durchzuleiten.
    [11] Verfahren gemäß Anspruch10, das ferner das Durchleiten des Ferntestbefehls an den Tester (100)umfasst.
    [12] Verfahren gemäß Anspruch10 oder 11, das ferner das Anlegen des Ferntestbefehls an ein Gerät (150)umfasst.
    [13] Verfahren gemäß Anspruch12, bei dem das Anlegen des Ferntestbefehls das Anlegen des Testbefehlsan ein System-auf-Chip (SOC) umfasst.
    [14] Verfahren gemäß einemder Ansprüche10 bis 13, das ferner das Durchleiten eines Ergebnisses des Ferntestbefehlszu der entfernten Steuerung (200) umfasst.
    [15] Verfahren gemäß Anspruch14, das ferner das lokale Zusammenstellen des Ergebnisses mit einerMehrzahl von zusätzlichenErgebnissen umfasst, die zu der entfernten Steuerung (200)durchgeleitet werden.
    [16] Verfahren gemäß einemder Ansprüche10 bis 15, bei dem das Erfassen eines Ferntestbefehls das Abfrageneines Speichers umfasst, der mit der entfernten Steuerung (200)gemeinschaftlich verwendet wird.
    [17] Verfahren gemäß einemder Ansprüche10 bis 16, bei dem das Erfassen eines Ferntestbefehls das Prüfen einesSemaphors umfasst.
    [18] Verfahren gemäß einemder Ansprüche10 bis 17, bei dem das Erfassen eines Ferntestbefehls das Erfasseneines Testbefehls umfasst, der an ein System-auf-Chip (SOC) angelegtwerden soll.
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    引用文献:
    公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题
    法律状态:
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    2007-06-21| 8127| New person/name/address of the applicant|Owner name: VERIGY (SINGAPORE) PTE. LTD., SINGAPORE, SG |
    2011-04-21| 8139| Disposal/non-payment of the annual fee|
    优先权:
    申请号 | 申请日 | 专利标题
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